蛍光X線膜厚計


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蛍光X線法を用いて、めっきの膜厚を測定します。

メーカー名

株式会社日立ハイテクサイエンス

型番

FT9400

仕様

X線源Wターゲット
検出器比例計数管＋半導体検出器
コリメータ0.015, 0.05, 0.1, 0.2 mmΦ
焦点10, 40, 70 mm

ご利用方法

試験計測（依頼試験）で利用できます

料金について

■ 試験計測（依頼試験）料金

蛍光X線法による膜厚測定

料金NO.項目単位料金担当部名
E3020蛍光X線法による膜厚測定１試料１ヶ所につき5,170円化学技術部

導入年度

令和5年度
  • この装置に関連するお問い合わせ
  • 担当：化学技術部　環境安全・バイオグループ