試験計測（依頼試験）
製品・部品・原材料等の開発・改良に必要な
分析・測定・加工等の各種試験を実施します
試験計測（旧名称：依頼試験）は、製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、
KISTECの専門職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
試験計測に関連する事務手続きについて
KISTECで行っている試験
KISTECで行っている試験は次の分類より、詳細（試験内容、料金等）をご確認いただけます。
海老名本部で行っている試験
材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析
観察 | 定量分析 | ガスクロマトグラフ成分分析 | 液体クロマトグラフ成分分析 | 固体・表面分析 | 分光分析・有機物定性分析 | 試料調製 | 分光光度計 | X線構造解析 | 熱物性 | 粉体・表面性能 | 超臨界試験
工業材料や部品の強さ、硬さ、耐久性等の評価
金属・セラミックス・機械部品 | 木材 | 糸・繊維 | 塗膜・めっき・表面処理等 | プラスチック・ゴム物性試験 | 環境試験 | 電気化学試験 | 燃料電池・二次電池
機械機器、電気・電子部品等の性能の評価
電気・機械機器 | デバイス・実装 | 電磁環境・EMC | 温湿度・環境 | 音響・振動 | デザイン・造形 | 寸法測定・形状測定 | 非破壊検査 | 観察
微生物・生化学・食品
微生物・生化学・食品
その他（成績書の複本・データ等の交付、研究生の指導）
成績書の複本・データ等の交付、研究生の指導
溝の口支所で行っている試験
材料解析分野
機器分析 走査型X線光電子分光分析装置（μ-XPS・μ-ESCA） | 機器分析 フーリエ変換赤外分光光度計 （FT-IR） | 機器分析 微小蛍光Ｘ線分析装置（XRF） | 機器分析 金属顕微鏡 | 機器分析 デジタルマイクロスコープ | 機器分析 マイクロフォーカスX線検査装置（μF-X線） | 機器分析 硬さ試験機 | 温湿度環境試験 | 電気計測試験
微細構造解析分野
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM／EDS） | 高分解能分析走査電子顕微鏡（FE-SEM／EDS） | 電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS） | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS） | TEM試料調製 | 集束イオンビーム装置（FIB） | マルチ解析用集束イオンビーム装置（FIB） | 画像解析システム
光機能分野
光触媒評価 光触媒JIS試験 | 光触媒評価 光触媒性能応用評価試験 | 太陽電池評価 | 光学特性評価 | 光劣化促進試験
試料前処理
試料前処理
成績書の複本の交付
成績書の複本の交付
技術開発受託報告書の作成
技術開発受託報告書の作成