半導体デバイスアナライザ

半導体デバイスアナライザは、半導体素子（バイポーラトランジスタ、ダイオード、MOSFETなど）の電気的特性を評価するために使用される測定装置です。以下は、半導体デバイスアナライザの主な用途と特徴です。

【用途・特徴】
半導体素子のI-V特性（電流と電圧の関係）やC-V特性（容量と電圧の関係）などを測定し、詳細な解析を行うことができます。デバイスの特性を把握することで、製造プロセスの最適化や不良品の検出、新しい素材や構造の評価などに役立ちます。半導体素子の品質を電気特性から評価し、製造プロセスの最適化や不良品の検出に役立ちます。

I-V特性については、電流の測定レンジは 1fA ～ 1A、電圧の測定レンジは 10mV ～ 400Vまで測定することができます。
C-V測定については、容量の測定レンジは1ｐＦ～10μＦ、測定周波数は 1kHz ～ 5MHzまで測定することができます。

また付属のソフトウェアから様々な半導体デバイスに対応したライブラリを選択することによって簡単に測定条件を設定することが可能で、測定だけでなく各種パラメータの計算から合否判定まで自動的に行うことができます。