冷熱衝撃試験機（TSA-73EH-W）
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冷熱衝撃試験は、試料に低温と高温のストレスを素早く繰返し与え、周囲温度変化や自身の発熱によって生じる膨張・収縮に対する信頼性を評価します。本装置は、試料を移動させない試料静止方式のため、振動ストレスが無く、試料への電源供給や測定用の配線接続も容易です。また、より高速な温度変化に対応することが可能なため、従来より厳しい評価が実施可能です。
さらに、オプションとして導体抵抗評価システムを併設し、冷熱衝撃試験時にはんだ接合部やコネクタ接続部における導体部の微小抵抗と試料表面温度を連続測定することが可能なため、導体部に亀裂が生じた時の抵抗変化と温度の関係も測定可能です。
さらに、オプションとして導体抵抗評価システムを併設し、冷熱衝撃試験時にはんだ接合部やコネクタ接続部における導体部の微小抵抗と試料表面温度を連続測定することが可能なため、導体部に亀裂が生じた時の抵抗変化と温度の関係も測定可能です。
メーカー名
エスペック株式会社型番
TSA-73EH-W仕様
＜冷熱衝撃試験機＞高温設定範囲 ：60～200℃
低温設定範囲 ：-70～0℃
温度復帰時間 ：5分以内（150℃/15分，-50℃/15分）
連続試験サイクル：1000サイクル（高温15分，低温15分を1サイクル）
試料室寸法 ：410×460×370（W×H×D mm）
＜導体抵抗評価システム＞
抵抗測定範囲
・直流電流計測方式（AMR-040-UD）：1mΩ～1MΩ
・交流電流計測方式（AMR-040-UA）：1mΩ～10kΩ
ご利用方法
試験計測（依頼試験）、技術開発受託（受託研究）で利用できます料金について
■ 試験計測（依頼試験）料金
料金についてはお問い合わせください。
導入年度
令和4年度導入に関して
本装置は令和4年度に公益財団法人JKAによる補助を受けて導入しました
- この装置に関連するお問い合わせ
- 担当：電子技術部 電子システムグループ