XPSによる金めっき表面シミの分析事例

XPSワイドスキャン分析により、極表面の薄いシミに、どのような元素が存在するかわかります。

　・極薄いシミの分析ができます

　・Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ）
　・アルバック・ファイ社　　Quantera SXM

　・金（Au）メッキ表面の極薄いシミの分析
　・XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

正常部分とシミ部分との比較分析を行うことで、シミ部分の成分がわかります。
シミ部分ではシリコンが検出されました。

このページのご紹介内容は、試験計測（依頼試験）でご利用いただけます。

今回のようなXPSワイドスキャン測定を実施した場合は、下記料金表が適用されます。詳細はお問い合わせください。

料金表（単位欄にメーカー・型式を表記している場合：機器使用料金（特に記載がない限り単位は１時間あたり））

料金NO.	項目	単位（又はメーカー・型式）	料金
K5002	Ｘ線光電子分光分析（XPS）　表面分析（ワイドスキャンのみ）	１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）	26,950円
K5005	Ｘ線光電子分光分析（XPS）　表面分析（ワイドスキャンのみ　追加試料）	追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）	21,230円