イオンミリング法による試料調製
イオンビームを用いた断面試料作製
【試験対象】
金属、セラミックス、めっき、塗膜等
クロスセクションポリシャ(Arイオンビーム研磨)による試料加工
【試験対象】
金属、セラミックス、めっき、塗膜等
クロスセクションポリシャ(Arイオンビーム研磨)による試料加工
料金について
料金表番号 | 試験名 | 単位 | 料金 |
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E0022 | イオンミリング法による試料調製(1)(標準的なもの) | 1試料1ヶ所につき | 45,100円 |
E0023 | イオンミリング法による試料調製(2)(複雑なもの) | 1試料1ヶ所につき | 67,430円 |
担当部署
機械・材料技術部 材料物性グループ分類
海老名本部 試験計測 | 材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析 | 観察- この試験に関連するお問い合わせ
- 担当:機械・材料技術部 材料物性グループ