酸化拡散試験
酸素や水蒸気を利用し、Si(シリコン)ウェハへ熱酸化により、酸化膜の形成を行います。また、Siウエハの不純物拡散を行います。
【試験対象】
Siウェハ
4インチウェハに対応(推奨は3インチまで)/温度範囲400~1200℃/ドライ酸化、ウエット酸化
【試験対象】
Siウェハ
4インチウェハに対応(推奨は3インチまで)/温度範囲400~1200℃/ドライ酸化、ウエット酸化
料金について
料金表番号 | 試験名 | 単位 | 料金 |
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E1120 | 酸化拡散試験 | 1時間当たり | 23,650円 |
使用する機器について
この試験に使用する機器は以下の通りです。
担当部署
電子技術部 電子デバイスグループ分類
海老名本部 試験計測 | 機械機器、電気・電子部品等の性能の評価 | デバイス・実装- この試験に関連するお問い合わせ
- 担当:電子技術部 電子デバイスグループ