超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定
微小部品の三次元形状観察、測定
【試験対象】
機械部品、電子部品、電子材料、半導体 等
例:プリント基板の銅配線幅・厚さ測定、他 非接触(光学式)で三次元形状を測定。
【試験対象】
機械部品、電子部品、電子材料、半導体 等
例:プリント基板の銅配線幅・厚さ測定、他 非接触(光学式)で三次元形状を測定。
料金について
料金表番号 | 試験名 | 単位 | 料金 |
---|---|---|---|
E1150 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 | 1測定1解析につき | 9,020円 |
E1151 | 超深度形状測定顕微鏡による観察及び形状測定 1解析増 | 1解析増すごとに | 2,420円 |
使用する機器について
この試験に使用する機器は以下の通りです。
担当部署
電子技術部 電子デバイスグループ分類
海老名本部 試験計測 | 機械機器、電気・電子部品等の性能の評価 | 寸法測定・形状測定- この試験に関連するお問い合わせ
- 担当:電子技術部 電子デバイスグループ