微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）　面分析

蛍光Ｘ線(XRF)分析装置は、試料にＸ線を照射し発生する蛍光Ｘ線を測定することで元素の確認（定性）や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量（半定量）を得ることができる装置です。

マッピング面積：250×200mm

料金について

料金表番号	試験名	単位	料金
K1212	微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）　面分析	面分析１条件につき（５元素まで）	12,100円
K1213	微小部蛍光Ｘ線分析（XRF）　面分析　条件追加	面分析１条件追加につき	2,530円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

川崎技術支援部　材料解析グループ

分類

溝の口支所　試験計測　|　材料解析分野　|　機器分析　微小蛍光Ｘ線分析装置（XRF）