走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]
最新の高性能電子光学系により、金属や半導体、セラミクス、有機物、磁性材料など様々な試料に対し、低倍率から高分解能観察まで行うことができる電子顕微鏡です。検出器を多数付属していることから組成像、凹凸像など様々な画像を取得することができます。元素分析装置も搭載しており、試料の元素同定や分布など有用な情報も得ることができます。
特徴
・光学顕微鏡では得られない焦点深度の深い観察が行えます。
・30倍から100万倍まで幅広い領域の観察が行えます。
・付属のEDS分析装置で試料の組成や分布がわかります。
・低真空モードを使用することで、絶縁材料等を無蒸着で観察することができます。
・STEM検出器を用いた透過像の観察が可能です。
・GBモードを使用すると、極低加速電圧で微細構造を観察することができます。
仕様
・分解能:0.7nm(15kV), 0.7nm(1kV)
・検出器:上方検出器(UED)、上方二次電子検出器(USD)、下方検出器(LED)、反射電子検出器(BED)
・試料サイズ:最大100mm径
・EDS:NORAN System7(サーモフィッシャーサイエンティフィック製)
・分析モード:点分析, 線分析, 面分析
・分析対象元素:B~U
・その他:STEM観察, 低真空観察, GB観察
*同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0011)。
特徴
・光学顕微鏡では得られない焦点深度の深い観察が行えます。
・30倍から100万倍まで幅広い領域の観察が行えます。
・付属のEDS分析装置で試料の組成や分布がわかります。
・低真空モードを使用することで、絶縁材料等を無蒸着で観察することができます。
・STEM検出器を用いた透過像の観察が可能です。
・GBモードを使用すると、極低加速電圧で微細構造を観察することができます。
仕様
・分解能:0.7nm(15kV), 0.7nm(1kV)
・検出器:上方検出器(UED)、上方二次電子検出器(USD)、下方検出器(LED)、反射電子検出器(BED)
・試料サイズ:最大100mm径
・EDS:NORAN System7(サーモフィッシャーサイエンティフィック製)
・分析モード:点分析, 線分析, 面分析
・分析対象元素:B~U
・その他:STEM観察, 低真空観察, GB観察
料金について
料金表番号 | 試験名 | 単位 | 料金 |
---|---|---|---|
K1310 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 5万倍以下 | 観察倍率5万倍以下 1試料1視野観察につき | 21,120円 |
K1315 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 5万倍以下1視野追加 | 観察倍率5万倍以下 同一試料において1視野追加観察につき | 4,840円 |
K1320 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 5万倍を超えて10万倍以下 | 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 1試料1視野観察につき | 30,910円 |
K1325 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加 | 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 同一試料において1視野追加観察につき | 9,240円 |
K1330 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 10万倍を超えるもの | 観察倍率10万倍を超えるもの 1試料1視野観察につき | 52,250円 |
K1335 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 10万倍を超えるもの 1視野追加 | 観察倍率10万倍を超えるもの 同一試料において1視野追加観察につき | 14,960円 |
K1392 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 10~15視野 | 1試料の観察視野が10~15視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) | 115,940円 |
K1395 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 16~30視野 | 1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) | 173,910円 |
K1342 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 低真空モード | 低真空モードの使用 | 11,220円 |
K1343 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 STEM | 透過像観察機能(STEM)の使用 | 11,220円 |
K1340 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 1条件追加 | 1条件追加につき | 11,220円 |
K1350 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 点分析 | 点分析1視野1箇所につき | 17,380円 |
K1351 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 点分析追加 | 点分析同一視野内で1箇所追加につき | 5,170円 |
K1352 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 線分析 | 線分析1視野1箇所につき | 23,540円 |
K1353 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 線分析追加 | 線分析同一視野内で1箇所追加につき | 8,360円 |
K1354 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 面分析 | 面分析1視野につき | 35,860円 |
K1356 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 各種データ処理 | 各種データ処理1条件につき | 5,170円 |
※観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。
使用する機器について
この試験に使用する機器は以下の通りです。
担当部署
川崎技術支援部 微細構造解析グループ*同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0011)。
分類
溝の口支所 試験計測 | 微細構造解析分野 | 高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)- この試験に関連するお問い合わせ
- 担当:川崎技術支援部 微細構造解析グループ