イオンビームスパッタ

イオンミリング装置のオプション機能（特殊ホルダー他）を使用し、SEM等のサンプルに極薄のカーボン膜等を成膜（導電性処理）することができます。

料金について

料金表番号	試験名	単位	料金
K4270	イオンビームスパッタ	１試料につき	5,610円

担当部署

川崎技術支援部　微細構造解析グループ

分類

溝の口支所　試験計測　|　試料前処理　|　試料前処理