蛍光Ｘ線分析装置（エネルギー分散方式・XRF）[XGT-5000WR]


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金属・セラミック・その他材料の元素定性分析装置です。スポット（点）測定及びマッピング（面）分析が可能です。

【用途・特徴】
　定性分析、マッピング分析、RoHS 指令元素（Pb、Cd、Hg、全Cr、全Br）のスクリーニング

メーカー名

株式会社堀場製作所

型番

XGT-5000WR

仕様

エネルギー分散型 X 線分析顕微鏡
測定元素 : Na ～ U
スポット測定範囲 : 100 μｍΦ、1.2 mmΦ
面分析測定範囲 : 100 mm × 100 mm
最大試料サイズ : 350(W) × 400(D) × 40(H) mm
透過像測定可
X 線管球 : Rh 管球（50 W）

ご利用方法

試験計測（依頼試験）で利用できます

料金について

■ 試験計測（依頼試験）料金

蛍光Ｘ線法による微小部定性分析

料金NO.項目単位料金担当部名
E1841蛍光Ｘ線法による微小部定性分析１試料，１カ所につき9,570円化学技術部
E1842蛍光Ｘ線法による微小部定性分析　１条件増１条件増すごとに3,520円化学技術部

導入年度

平成17年度
  • この装置に関連するお問い合わせ
  • 担当：化学技術部　化学評価グループ