蛍光X線分析装置(微小部・XRF)[SEA6000VX HSFinder]
蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量(半定量)を得ることができる装置です。
金属,半導体,有機物及びセラミックスとあらゆる固体に対応でき、元素情報を得るための入り口的な装置として、中小企業から大企業の多種多様なニーズに対応できる装置です。
【用途・特徴】
♦ 大きい試料も非破壊で測定
♦ 微小からバルクまでの分析領域
♦ 広範囲の高速マッピング
金属,半導体,有機物及びセラミックスとあらゆる固体に対応でき、元素情報を得るための入り口的な装置として、中小企業から大企業の多種多様なニーズに対応できる装置です。
【用途・特徴】
♦ 大きい試料も非破壊で測定
♦ 微小からバルクまでの分析領域
♦ 広範囲の高速マッピング
メーカー名
SIIナノテクノロジー株式会社型番
SEA6000VX HSFinder仕様
X線源 | 空冷式小型X線管球(Wターゲット)、コリメータ方式 |
---|---|
X線照射向き | 上面照射 |
分析領域 | 200μm,500μm,1.2mm,3mm, |
分析元素 | Mg~U (Heパージ使用時 Na~U) |
試料室 | 580(W)×450(D)×150(H)mm |
マッピング面積 | 250×200mm |
ご利用方法
試験計測(依頼試験)、機器使用で利用できます料金について
■ 試験計測(依頼試験)料金
料金についてはお問い合わせください。
微小部蛍光X線分析(XRF)
料金NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
---|---|---|---|---|
K1210 | 微小部蛍光X線分析(XRF) | 1試料1条件につき | 7,590円 | 川崎技術支援部 |
K1211 | 微小部蛍光X線分析(XRF) 条件追加 | 1条件追加につき | 3,520円 | 川崎技術支援部 |
微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析
料金NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
---|---|---|---|---|
K1212 | 微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析 | 面分析1条件につき(5元素まで) | 12,100円 | 川崎技術支援部 |
K1213 | 微小部蛍光X線分析(XRF) 面分析 条件追加 | 面分析1条件追加につき | 2,530円 | 川崎技術支援部 |
■ 機器使用料金 (特に表記のない場合は、1時間当たりの料金となります。)
料金NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 使用料 | 担当部名 |
---|---|---|---|---|
K2210 | 微小部蛍光X線分析装置(XRF) SEA6000VX HSFinder (1時間あたり) | SII社 SEA6000VX HSFinder | 6,050円 | 川崎技術支援部 |
導入年度
平成22年度- この装置に関連するお問い合わせ
- 担当:川崎技術支援部 材料解析グループ