走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]
最新の高性能電子光学系により、金属や半導体、セラミクス、有機物、磁性材料など様々な試料に対し、低倍率から高分解能観察まで行うことができる電子顕微鏡です。
検出器を多数付属していることから組成像、凹凸像など様々な画像を取得することができます。元素分析装置も搭載しており、試料の元素同定や分布など有用な情報も得ることができます。
【用途・特徴】
・ 低真空モードを使用することで、絶縁材料等を無蒸着で観察できます。
・ STEM検出器を用いた透過像の観察が可能です。
・ GBモードを使用すると、極低加速電圧で微細構造を観察することができます。
立会い観察分析も可能です。
♣ 撮影箇所や分析箇所を指定でき、欲しい情報が的確に得られます。
♣ データを受取るだけでは得られない多くの情報を得る事ができます。
♣ 画像データはその場でお渡しできます。
応用例とその試料調製法
・ めっきの断面観察&分析 → 断面作製用イオンミリング装置
・ 高分子材料の観察 → ウルトラミクロトーム
・ 金属組織観察 → 断面作製用イオンミリング装置
・ ガラス、樹脂の破面観察 → その他
検出器を多数付属していることから組成像、凹凸像など様々な画像を取得することができます。元素分析装置も搭載しており、試料の元素同定や分布など有用な情報も得ることができます。
【用途・特徴】
・ 低真空モードを使用することで、絶縁材料等を無蒸着で観察できます。
・ STEM検出器を用いた透過像の観察が可能です。
・ GBモードを使用すると、極低加速電圧で微細構造を観察することができます。
立会い観察分析も可能です。
♣ 撮影箇所や分析箇所を指定でき、欲しい情報が的確に得られます。
♣ データを受取るだけでは得られない多くの情報を得る事ができます。
♣ 画像データはその場でお渡しできます。
応用例とその試料調製法
・ めっきの断面観察&分析 → 断面作製用イオンミリング装置
・ 高分子材料の観察 → ウルトラミクロトーム
・ 金属組織観察 → 断面作製用イオンミリング装置
・ ガラス、樹脂の破面観察 → その他
メーカー名
日本電子株式会社型番
JSM-7800F Prime仕様
FE-SEM | 分解能:0.7nm(15kV)、0.7nm(1kV)、3.0nm(5kV、WD10mm、5nA) 検出器:上方検出器(UED)、上方二次 電子検出器(USD)、下方検出器(LED)、反射電子検出器(BED) 試料交換サイズ:100mm径(最大) |
---|---|
EDS | サーモフィッシャーサイエンティフィック NORAN System 7 |
その他 | STEM観察、低真空観察、GB観察 |
分析モード | 点分析、線分析、面分析 |
分析対象元素 | B~U |
ご利用方法
試験計測(依頼試験)、技術開発受託(受託研究)で利用できます料金について
■ 試験計測(依頼試験)料金
走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]
料金NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
---|---|---|---|---|
K1310 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 5万倍以下 | 観察倍率5万倍以下 1試料1視野観察につき | 21,120円 | 川崎技術支援部 *同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0011)。 |
K1315 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 5万倍以下1視野追加 | 観察倍率5万倍以下 同一試料において1視野追加観察につき | 4,840円 | 川崎技術支援部 *同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0012)。 |
K1320 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 5万倍を超えて10万倍以下 | 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 1試料1視野観察につき | 30,910円 | 川崎技術支援部 *同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0013)。 |
K1325 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加 | 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 同一試料において1視野追加観察につき | 9,240円 | 川崎技術支援部 *同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0014)。 |
K1330 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 10万倍を超えるもの | 観察倍率10万倍を超えるもの 1試料1視野観察につき | 52,250円 | 川崎技術支援部 *同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0015)。 |
K1335 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 10万倍を超えるもの 1視野追加 | 観察倍率10万倍を超えるもの 同一試料において1視野追加観察につき | 14,960円 | 川崎技術支援部 *同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0016)。 |
K1392 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 10~15視野 | 1試料の観察視野が10~15視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) | 115,940円 | 川崎技術支援部 *同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0017)。 |
K1395 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 16~30視野 | 1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) | 173,910円 | 川崎技術支援部 *同様の試験を海老名本部でも行っております(料金番号:E0018)。 |
K1342 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 低真空モード | 低真空モードの使用 | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
K1343 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 STEM | 透過像観察機能(STEM)の使用 | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
K1340 | 高分解能分析走査電子顕微鏡 (FE-SEM/EDS) SEM観察 1条件追加 | 1条件追加につき | 11,220円 | 川崎技術支援部 |
K1350 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 点分析 | 点分析1視野1箇所につき | 17,380円 | 川崎技術支援部 |
K1351 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 点分析追加 | 点分析同一視野内で1箇所追加につき | 5,170円 | 川崎技術支援部 |
K1352 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 線分析 | 線分析1視野1箇所につき | 23,540円 | 川崎技術支援部 |
K1353 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 線分析追加 | 線分析同一視野内で1箇所追加につき | 8,360円 | 川崎技術支援部 |
K1354 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 面分析 | 面分析1視野につき | 35,860円 | 川崎技術支援部 |
K1356 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 各種データ処理 | 各種データ処理1条件につき | 5,170円 | 川崎技術支援部 |
高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS)
料金NO. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
---|---|---|---|---|
K1350 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 点分析 | 点分析1視野1箇所につき | 17,380円 | 川崎技術支援部 |
K1351 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 点分析追加 | 点分析同一視野内で1箇所追加につき | 5,170円 | 川崎技術支援部 |
K1352 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 線分析 | 線分析1視野1箇所につき | 23,540円 | 川崎技術支援部 |
K1353 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 線分析追加 | 線分析同一視野内で1箇所追加につき | 8,360円 | 川崎技術支援部 |
K1354 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 面分析 | 面分析1視野につき | 35,860円 | 川崎技術支援部 |
K1356 | 高分解能分析FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 各種データ処理 | 各種データ処理1条件につき | 5,170円 | 川崎技術支援部 |
※分析条件により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。
導入年度
平成26年度- この装置に関連するお問い合わせ
- 担当:川崎技術支援部 微細構造解析グループ