走査電子顕微鏡写真撮影

材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察

【試験対象】
　各種材料および機械部品

【関連キーワード】
　走査電子顕微鏡写真撮影（SEM：Scanning Electron Microscope）

料金について

料金表番号	試験名	単位	料金
E0011	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下	１試料１視野観察につき	21,120円
E0012	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下　1視野追加	１視野追加観察につき	4,840円
E0013	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下	１試料１視野観察につき	30,910円
E0014	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下　１視野追加	１視野追加観察につき	9,240円
E0015	走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの	１試料１視野観察につき	52,250円
E0016	走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの　１視野追加	１視野追加観察につき	14,960円
E0017	走査電子顕微鏡写真撮影　10～15視野		115,940円
E0018	走査電子顕微鏡写真撮影　16～30視野		173,910円
E0021	エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（E0011～E0018、E1790に適用）	１ヶ所につき	7,150円

※倍率及び撮影の追加等により、料金が加算されます。

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

機械・材料技術部　ナノ材料グループ
*同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1310）。

分類

海老名本部　試験計測　|　材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析　　|　観察