走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS/EBSD）[JSM-7800F Prime]

メーカー名

日本電子株式会社

型番

JSM-7800F Prime

仕様

走査電子顕微鏡本体：JEOL　JSM-7800F Prime、分解能：1.0nm（15kV）、検出器：二次電子、反射電子、最大試料サイズ：100mmΦx40mmH
エネルギー分散分光分析（EDS）装置：Oxford Instruments 社製 AZtec Energy、検出器：80mm^2 x２
後方散乱電子線回折（EBSD）装置：Oxford Instruments 社製 AZtec HKL、検出器：Nordlys Nano

ご利用方法

試験計測（依頼試験）、技術開発受託（受託研究）で利用できます

料金について

■ 試験計測（依頼試験）料金

走査電子顕微鏡写真撮影

料金NO.	項目	単位	料金	担当部名
E0011	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下	１試料１視野観察につき	21,120円	機械・材料技術部 *同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1310）。
E0012	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下　1視野追加	１視野追加観察につき	4,840円	機械・材料技術部 *同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1315）。
E0013	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下	１試料１視野観察につき	30,910円	機械・材料技術部 *同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1320）。
E0014	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下　１視野追加	１視野追加観察につき	9,240円	機械・材料技術部 *同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1325）。
E0015	走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの	１試料１視野観察につき	52,250円	機械・材料技術部 *同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1330）。
E0016	走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの　１視野追加	１視野追加観察につき	14,960円	機械・材料技術部 *同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1335）。
E0017	走査電子顕微鏡写真撮影　10～15視野		115,940円	機械・材料技術部 *同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1392）。
E0018	走査電子顕微鏡写真撮影　16～30視野		173,910円	機械・材料技術部 *同様の試験を溝の口支所でも行っております（料金番号：K1395）。
E0021	エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（E0011～E0018、E1790に適用）	１ヶ所につき	7,150円	機械・材料技術部

電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定

料金NO.	項目	単位	料金	担当部名
E1790	電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定	１視野測定につき	49,500円	機械・材料技術部
E1791	電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定　１視野追加	１視野追加測定につき	12,760円	機械・材料技術部
E0021	エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（E0011～E0018、E1790に適用）	１ヶ所につき	7,150円	機械・材料技術部

導入年度

平成28年度