電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定

走査電子顕微鏡に付属された電子線後方散乱回折（EBSD）図形を観測する装置を用いて、観察視野内での結晶方位分布を知ることができます。

【試験対象】
　金属材料、無機材料など

走査電子顕微鏡：日本電子製 JSM-7800F Prime
電子線後方散乱回折観測装置：オックスフォードインストゥルメンツ社製 AZtec HKL

料金について

料金表番号	試験名	単位	料金
E1790	電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定	１視野測定につき	46,750円
E1791	電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定　１視野追加	１視野追加測定につき	11,660円
E0021	エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）（E0011～E0018、E1790に適用）	１ヶ所につき	7,040円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

機械・材料技術部　材料物性グループ

分類

海老名本部　試験計測　|　材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析　　|　観察