蛍光X線法による膜厚測定

試料に X 線を照射して　被膜あるいは素地を構成する元素固有の蛍光X線強度を測定することで被膜の膜厚を非破壊で測定します。

【測定対象】
　メッキ製品
【関連キーワード】
　XRF膜厚測定

料金について

料金表番号	試験名	単位	料金
E3020	蛍光X線法による膜厚測定	１試料１ヶ所につき	5,170円

使用する機器について

この試験に使用する機器は以下の通りです。

担当部署

化学技術部　環境安全・バイオグループ

分類

海老名本部　試験計測　|　工業材料や部品の強さ、硬さ、耐久性等の評価　|　塗膜・めっき・表面処理等