走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]
・材料の表面形態観察を30倍から80万倍の範囲で観察できます。
・光学顕微鏡に比べて焦点深度が深いので、凹凸のある試料でも観察が可能です。
・付属のEDSにより元素分析が可能ですので、付着物や変色部分などトラブルシューティングにおいても威力を発揮します。
・低加速電圧での高倍率観察や走査透過電子顕微鏡(STEM)観察が可能です。
仕様
・分解能:1.0nm(15kV)1.4nm(1kVリターディングモード)
・検出器:二次電子検出器、反射電子検出器
・試料サイズ:最大100mm径
・EDS:Gnensis2000(EDAX製)
・分析モード:点分析, 線分析, 面分析
・分析対象元素:B~U
・その他:透過電子検出器, EBIC観察ユニット, リターディング観察
・光学顕微鏡に比べて焦点深度が深いので、凹凸のある試料でも観察が可能です。
・付属のEDSにより元素分析が可能ですので、付着物や変色部分などトラブルシューティングにおいても威力を発揮します。
・低加速電圧での高倍率観察や走査透過電子顕微鏡(STEM)観察が可能です。
仕様
・分解能:1.0nm(15kV)1.4nm(1kVリターディングモード)
・検出器:二次電子検出器、反射電子検出器
・試料サイズ:最大100mm径
・EDS:Gnensis2000(EDAX製)
・分析モード:点分析, 線分析, 面分析
・分析対象元素:B~U
・その他:透過電子検出器, EBIC観察ユニット, リターディング観察
料金について
料金表番号 | 試験名 | 単位 | 料金 |
---|---|---|---|
K1010 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 5万倍以下 | 観察倍率5万倍以下 1条件につき | 21,450円 |
K1015 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 5万倍以下 条件追加 | 観察倍率5万倍以下 1条件追加につき | 4,950円 |
K1020 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 5万倍を超えて10万倍以下 | 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 1条件につき | 31,020円 |
K1025 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 5万倍を超えて10万倍以下 条件追加 | 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 1条件追加につき | 9,680円 |
K1030 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 10万倍を超えるもの | 観察倍率10万倍を超えるもの 1条件につき | 52,470円 |
K1035 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 10万倍を超えるもの 条件追加 | 観察倍率10万倍を超えるもの 1条件追加につき | 15,400円 |
K1040 | FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) | 1条件につき | 15,400円 |
K1041 | FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 条件追加 | 1条件追加につき | 4,950円 |
K1042 | FE-SEM エネルギー分散型X線分析装置(EDS) 面分析 | 面分析1条件につき | 16,390円 |
K1050 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) SEM観察 10~15視野 | 1試料の観察視野が10~15視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) | 114,400円 |
K1052 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) SEM観察 16~30視野 | 1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) | 170,060円 |
K1055 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) SEM観察 条件追加 | 1条件追加につき | 12,540円 |
※観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。
使用する機器について
この試験に使用する機器は以下の通りです。
担当部署
川崎技術支援部 太陽電池評価グループ分類
溝の口支所 試験計測 | 微細構造解析分野 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)この試験に関連する事例
- この試験に関連するお問い合わせ
- 担当:川崎技術支援部 太陽電池評価グループ