分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF]


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♠数千倍から数百万倍まで、広範囲の倍率で試料の微細構造観察ができます。
♠EDS分析により数nmの分解能で元素分析が行うことができます。
♠電子線回折や暗視野像からは試料の結晶情報が得られます。

特長
♣2台のEDSを搭載することで、X線分析の収集効率と精度が格段に向上し、これまでより短時間に詳細な分析が可能です。
♣従来のEDS分析では困難であった元素の組み合わせでも最新のピーク分離機能により面分析が可能になりました。
♣HAADF-STEM像(高角度散乱暗視野像)での像強度は原子番号の二乗に比例するため、軽い原子と比較して重い原子が選択的に観察できます。

立会い観察分析も可能です。
♦撮影箇所や分析箇所を指定でき、欲しい情報が的確に得られます。
♦データを受取るだけでは得られない多くの情報を得る事ができます。
♦画像データはその場でお渡しできます。

メーカー名

株式会社トプコンテクノハウス

型番

EM002BF

仕様

FE-TEMトプコンテクノハウス EM002BF ・格子分解能 : 0.10nm ・観察モード : 明視野像、暗視野像、高分解能像
EDS(エネルギー分散型X線分析装置)サーモフィッシャーサイエンティフィック NORAN System SIX(検出器2台装備) ・最小分析領域 : 0.3nm
STEMトプコンテクノハウス ASD-2B2 ・観察モード : 明視野像、暗視野像、HAADF

ご利用方法

試験計測(依頼試験)技術開発受託(受託研究)で利用できます

料金について

■ 試験計測(依頼試験)料金

分析透過電子顕微鏡観察(FE-TEM/EDS)[EM002BF]

料金NO.項目単位料金担当部名
K1440電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍以下倍率 10万倍以下 1視野につき19,470円川崎技術支援部
K1445電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍以下 1視野増倍率 10万倍以下 1視野増すごとに7,040円川崎技術支援部
K1441電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍を超えて50万倍以下倍率 10万倍を超えて50万倍以下 1視野につき25,850円川崎技術支援部
K1446電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍を超えて50万倍以下 1視野増倍率 10万倍を超えて50万倍以下 1視野増すごとに14,080円川崎技術支援部
K1450電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)50万倍を超えて200万倍以下倍率  50万倍を超えて200万倍以下 1視野につき35,530円川崎技術支援部
K1455電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)50万倍を超えて200万倍以下 1視野増倍率  50万倍を超えて200万倍以下 1視野増すごとに19,470円川崎技術支援部
K1451電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの倍率 200万倍を超えるもの 1視野につき51,590円川崎技術支援部
K1456電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの 1視野増倍率 200万倍を超えるもの 1視野増すごとに29,590円川崎技術支援部
K1460電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)試料傾斜調整試料傾斜調整 1条件ごとに13,420円川崎技術支援部
K1470電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)制限視野回折制限視野回折 1視野につき16,500円川崎技術支援部
K1471電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)微小領域回折微小領域回折 1視野につき29,590円川崎技術支援部
K1472電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)明視野像明視野像 1視野につき19,470円川崎技術支援部
K1473電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)暗視野像暗視野像 1視野につき35,530円川崎技術支援部
K1510電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS) 点分析点分析 1試料1測定点につき28,710円川崎技術支援部
K1515電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS) 点分析追加点分析 同一試料において1測定点追加につき6,160円川崎技術支援部
K1540電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS) 定量分析定量分析 1試料1測定点につき24,970円川崎技術支援部
K1545電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS) 定量分析追加定量分析 同一試料において1測定点追加につき7,370円川崎技術支援部
K1520電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS) 線分析線分析 1測定5元素までごとに68,090円川崎技術支援部
K1530電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS) 面分析面分析 1視野5元素ごとに、 または2時間につき109,230円川崎技術支援部
K1550TEM データ処理各種データ処理 1条件につき12,320円川崎技術支援部

※観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。

導入年度

平成19年度

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  • 担当:川崎技術支援部 微細構造解析グループ