分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]

♠数千倍から数百万倍まで、広範囲の倍率で試料の微細構造観察ができます。
♠EDS分析により数nmの分解能で元素分析が行うことができます。
♠電子線回折や暗視野像からは試料の結晶情報が得られます。

特長
♣2台のEDSを搭載することで、X線分析の収集効率と精度が格段に向上し、これまでより短時間に詳細な分析が可能です。
♣従来のEDS分析では困難であった元素の組み合わせでも最新のピーク分離機能により面分析が可能になりました。
♣HAADF-STEM像（高角度散乱暗視野像）での像強度は原子番号の二乗に比例するため、軽い原子と比較して重い原子が選択的に観察できます。

立会い観察分析も可能です。
♦撮影箇所や分析箇所を指定でき、欲しい情報が的確に得られます。
♦データを受取るだけでは得られない多くの情報を得る事ができます。
♦画像データはその場でお渡しできます。

・分解能：0.10nm
・観察モード：明視野像、暗視野像、高分解能像、STEM像
・エネルギー分散型分析装置：サーモフィッシャーサイエンティフィック　NORAN System SIX（検出器2台装備）
・最小分析領域：0.3nm
・分析モード：点分析、線分析、面分析
・分析対象元素：B～U

料金について

料金表番号	試験名	単位	料金
K1440	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍以下	倍率　10万倍以下　１視野につき	19,470円
K1445	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍以下１視野増	倍率　10万倍以下　１視野増すごとに	7,040円
K1441	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下	倍率　10万倍を超えて50万倍以下　１視野につき	25,850円
K1446	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）10万倍を超えて50万倍以下１視野増	倍率　10万倍を超えて50万倍以下　１視野増すごとに	14,080円
K1450	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）50万倍を超えて200万倍以下	倍率　 50万倍を超えて200万倍以下　１視野につき	35,530円
K1455	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）50万倍を超えて200万倍以下１視野増	倍率　 50万倍を超えて200万倍以下　１視野増すごとに	19,470円
K1451	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの	倍率　200万倍を超えるもの　１視野につき	51,590円
K1456	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）200万倍を超えるもの１視野増	倍率　200万倍を超えるもの　１視野増すごとに	29,590円
K1460	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）試料傾斜調整	試料傾斜調整　１条件ごとに	13,420円
K1470	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）制限視野回折	制限視野回折　１視野につき	16,500円
K1471	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）微小領域回折	微小領域回折　１視野につき	29,590円
K1472	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）明視野像	明視野像　１視野につき	19,470円
K1473	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM）暗視野像	暗視野像　１視野につき	35,530円
K1510	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）点分析	点分析　１試料１測定点につき	28,710円
K1515	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）　点分析追加	点分析　同一試料において１測定点追加につき	6,160円
K1540	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）　定量分析	定量分析　１試料１測定点につき	24,970円
K1545	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）　定量分析追加	定量分析　同一試料において１測定点追加につき	7,370円
K1520	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）　線分析	線分析　１測定５元素までごとに	68,090円
K1530	電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）　面分析	面分析　１視野５元素ごとに、または２時間につき	109,230円
K1550	TEM　データ処理	各種データ処理　１条件につき	12,320円