川崎技術支援部(機器・設備)
KISTECが保有している試験計測機器・研究設備(川崎技術支援部所管)を紹介します。
これらの機器・設備はKISTECの専門職員が行う各種試験や研究に使用されるほか、お客様ご自身が来所のうえ、ご利用いただけるものもございます。
お客様自身でご利用可能な機器・設備は、各機器の詳細ページ、又は機器使用よりご確認いただけます。
生産・加工機器
page top環境試験・電磁環境試験機器
- スペクトラムアナライザ
- インピーダンス安定化回路網(ISN)
- 電源高調波電流測定器
- 静電気試験器
- 伝導イミュニティ試験器
- シールドテント
- ノイズ発生器
- 小型電波暗室
- シールドルーム
- ノイズシミュレータ
- 冷熱衝撃試験機 [NT1050W]
- 恒温槽 [PVH-110M]
- 冷熱衝撃試験機 [TS100W]
- 高度加速寿命試験装置 [PM420]
- 恒温恒湿槽 [TH411HA]
- 恒温恒湿槽 [FX424P]
- パルスイミュニティ試験器
- 恒温恒湿槽(超低温)[PSL-2KPH]
- 促進耐光性試験機(キセノン)
- 促進耐光性試験機(紫外線蛍光ランプ式)
試料調製用機器
page top試験・計測機器
page top分析・評価機器(観察)
- 集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)[Scios LoVacシステム]
- レーザーマーカー
- マイクロフォーカスX線検査装置(μF-X線)
- 金属顕微鏡 [BX-51]
- 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
- 集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)[XVision 200TB]
- 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]
- 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]
- マクロ撮影イメージングシステム
- デジタルマイクロスコープ [VHX-600]
- 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/STEM/EDS)[Talos F200X]
分析・評価機器(組成分析)
- 集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)[Scios LoVacシステム]
- 光音響マルチガス分析器
- 蛍光X線分析装置(微小部・XRF)[SEA6000VX HSFinder]
- フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)
- X線光電子分光分析装置(走査型・XPS)[Quantera SXM]
- 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)[EM002BF]
- 集束イオンビーム装置(FIB-SEM/EDS)[XVision 200TB]
- 走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]
- 分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/STEM/EDS)[Talos F200X]
分析・評価機器(物性(光、熱、音振、エネルギー))
- 紫外領域対応分光放射照度計
- 小型ソーラーシミュレータ
- 恒温槽付き1灯式ソーラーシミュレータ
- 恒温槽付き2灯式ソーラーシミュレータ
- 分光感度測定装置
- LED式可視光ソーラーシミュレーター
- 低照度光源
- 分光放射照度計
- 高性能分光放射照度計
- 照度分布評価装置
- 紫外・可視・近赤外分光光度計 [UH4150]