分析・評価機器（観察）
マイクロスコープ
page top光学顕微鏡
- 金属顕微鏡 [Nikon OPTIPHOT-2]
- 金属顕微鏡及び画像処理システム [カールツァイス AxioImager.M2m]
- 金属顕微鏡 [カールツァイス AxioImager.M1m]
- 蛍光顕微鏡（生物試料）
- 生物顕微鏡
- 実体顕微鏡 [カールツァイス Stereo Discovery V20]
- 超深度形状測定顕微鏡（カラーレーザ顕微鏡）
- デジタルマイクロスコープ [HRX-01]
- ハイブリッドレーザー顕微鏡
- 金属顕微鏡 [BX-51]
電子顕微鏡
- 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS/EBSD）[JSM-7800F Prime]
- 走査電子顕微鏡（汎用SEM/EDS/LV）[JSM-IT200LA]
- 電子線マイクロアナライザ（電界放出型・FE-EPMA）
- 集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]
- 集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
- 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]
- 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
- 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/STEM/EDS）[Talos F200X]
- 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
- レーザーマーカー
原子間力顕微鏡
内部観察機器
- Ｘ線ＣＴスキャン装置
- Ｘ線透視装置
- 高出力高精細X線CT装置
- 超音波映像装置
- ノマルスキー干渉顕微鏡
- 波長掃引型光コヒーレンストモグラフィー（SS-OCT）
- プラスチック残留歪観察装置
- 集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]
- 集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
- マイクロフォーカスＸ線検査装置（μF-X線）