微細構造解析分野：試験計測（溝の口）
KISTEC 溝の口支所（川崎技術支援部）で行っている「微細構造解析分野」の試験をご紹介します。詳細は、各ページの相談フォームよりお問合せください。
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM／EDS）
page top高分解能分析走査電子顕微鏡（FE-SEM／EDS）
page top電界放出型分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS）
page top分析透過電子顕微鏡（FE-TEM／EDS）
page topTEM試料調製
- TEM試料調製 分散法
- TEM試料調製 低エネルギーイオンミリング （ジェントルミル）
- TEM試料調製 電子染色
- TEM試料調製 樹脂包埋
- TEM試料調製 FIB-リフトアウト法
- TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 低加速ガリウムイオン
- TEM試料調製 FIB-マイクロプロービング法 アルゴンイオンミリング