材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析：試験計測（海老名）
KISTEC 海老名本部で行っている「材料や異物等の材質、成分、元素、物性の分析」に関連する試験をご紹介します。詳細は、各ページの相談フォームよりお問合せください。
観察
- 走査電子顕微鏡写真撮影
- エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）
- イオンミリング法による試料調製
- 金属組織写真撮影
- 実体顕微鏡写真撮影
- 顕微鏡試料調整
- デジタルマイクロスコープ観察 [HRX-01]
- デジタルマイクロスコープ撮影 [HRX-01]
- 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定
- 表面観察（FE-EPMAによる）
定量分析
- 定量分析（Ａ） （容易なもの）
- 定量分析（Ｂ）（複雑なもの）
- 炭素・硫黄分析装置による定量分析
- 原子吸光分析法による定量分析
- ＩＣＰ発光分光分析法による定量分析
- ＩＣＰ発光分光分析法による定性分析
- カールフィッシャー水分測定（直接法）
- カールフィッシャー水分測定（加熱気化法）
- 分光蛍光光度計試験
- ＣＨＮ元素分析装置による定量分析
- 水質試験（Ａ）（容易なもの）
- 水質試験（Ｂ）（複雑なもの）
- 溶出検液作成
ガスクロマトグラフ成分分析
- ガスクロマトグラフによる分析
- ガスクロマトグラフ定量分析
- ヘッドスペースガスクロマトグラフによる分析
- ヘッドスペースガスクロマトグラフ定量分析
- ガスクロマトグラフ質量分析（ＧＣＭＳ）
- ヘッドスペースＧＣＭＳ分析
- サーマルデソープションＧＣＭＳ分析
- 化学イオン化（ＣＩ）法によるＧＣＭＳ分析
- 熱分解GCMS分析
液体クロマトグラフ成分分析
page top固体・表面分析
- エネルギー分散型Ｘ線分析（ＥＤＸ）
- 蛍光Ｘ線法による微小部定性分析
- 蛍光Ｘ線定性分析（波長分散方式）
- X線光電子分光分析（XPS）
- X線光電子分光分析（走査型・XPS）
- 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）
分光分析・有機物定性分析
page top試料調製
- 試料調製（１）（一般的な前処理）
- 試料調製（２）（複雑な前処理）
- 試料調製（３）（困難な前処理）
- 試料調製（４）（非常に困難な前処理）
- 切粉作製（Ａ）（加工が容易なもの）
- 切粉作製（Ｂ）（加工がやや難しいもの）
分光光度計
page topX線構造解析
page top熱物性
page top粉体・表面性能
- 接触角測定試験
- ゼータ電位測定（Ａ）（微粒子分散溶液）
- ゼータ電位測定（Ｂ）（平板形状試料）
- 粒径分布測定（レーザ回折・散乱法）
- 粒径分布測定（動的光散乱法）
- 粒径分布測定（静的画像解析法）
- 比表面積測定（窒素ガス吸着法）
- 細孔分布解析